一般功能和外形规格
　　型号：CS-RA004
　　分类：≥30微米、≥50微米、≥100微米、≥150微米、≥200微米
　　粗粒径分级：≥30μm，≥50μm，≤100μm，
≥150μm和≥200μm
　　计数采样板表面的灰尘数量（4英寸硅
晶片）并对它们进行分类。
　　保存图像数据和分类/计数数据（CSV格式）
　　测量时间：10秒
　　你可以清理采样板，然后再次使用。
　　尺寸：490mm x 420mm x 275mm
　　重量：约21kg





测量环境中的降尘
任何地方的粗颗粒都可以通过放置干净的硅来测量
并使用RACCAR计数晶片上的灰尘。那么，你将能够
估计粗颗粒可能落在工件上的程度
环境。这种方法在硅片所能达到的任何地方都是有效的
即使是在烤箱内部，通常也很难检查。这种
这种方法在半导体行业被称为“粒子测试”。RACCAR启用
在许多应用中进行这样的粒子测试，并帮助您进行调查
以提高产量。
　　您可以通过触摸采样硅片并通过RACCAR测量来检查洁净室耗材（手套、洁净服）上附着了多少灰尘。洁净室耗材并非总是如您所期望的那样干净。即使你在进入洁净室之前将它们清理干净，你的手在接触产品时可能会沾上灰尘。了解情况是进行有效测量的第一步。
　　RACCAR和PC
① USB电缆
　　② LAN电缆
　　③ 交流电源电缆
　　④ 阶段
　　⑤ 软件CD
　　⑥ USB安全密钥
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发布者：儧罡龒